Séminaire de métrique générale
2025-2026
Sorbonne Université, UR STIH
Romain Benini, Sorbonne Université
François Dell, CNRS-EHESS
Ce séminaire est l’héritier de celui organisé par Jean-Louis Aroui (Paris 8-CNRS, 2011-2015). La métrique générale cherche à élaborer un système aussi restrictif que possible de notions et de principes qui puissent servir à décrire les traditions métriques à travers le monde. Elle étudie en particulier les fondements linguistiques des structures métriques. La perspective adoptée sera celle de la métrique générative, pour laquelle les catégories qui servent à décrire les formes versifiées sont étroitement apparentées à celles qui servent à décrire le langage ordinaire. On a donc recours aux mêmes dispositifs formels que ceux qui sont employés en linguistique pour la description des langues naturelles : arbres, grilles, gabarits, contraintes.
La plupart des séances seront consacrées à la discussion d’un ou plusieurs articles que les participants auront lus à l’avance. Certaines séances seront couplées : la première des deux séances sera consacrée à une question de phonologie, et la seconde à sa contrepartie métrique.
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This seminar is the successor to that organized by Jean-Louis Aroui (Paris 8-CNRS, 2011-2015). General metrics seeks to develop a system as restrictive as possible of concepts and principles that can be used to describe metrical traditions across the world, with a focus on the linguistic foundations of metrical structures. The general outlook will be that of generative metrics, in which the categories used to describe versified forms are closely related to those used to describe ordinary language. The same formal devices as those employed in linguistics for the description of natural languages will therefore be used: trees, grids, templates, constraints.
Most sessions will be devoted to the discussion of one or more articles that participants will have read in advance. Some sessions will be paired: the first of the two sessions will be devoted to a question of phonology, and the second to its metrical counterpart.